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射頻探針,MT1000和MT2000混合信號(hào)有源負(fù)載牽引系統(tǒng)是經(jīng)過(guò)商業(yè)驗(yàn)證的最佳解決方案，能夠在高達(dá)每分鐘1000阻抗/功率狀態(tài)的高速下執(zhí)行負(fù)載牽引，在以下條件下不限制史密斯圓圖覆蓋范圍：$n...
GP200包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。提供專(zhuān)業(yè)的測(cè)試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。
GP200SE 8英寸高低溫探針臺(tái)包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。提供專(zhuān)業(yè)的測(cè)試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。GP200SE擁有穩(wěn)定且可靠...
硅光探針臺(tái),GP200-SIP系列8英寸探針臺(tái)包含硅光芯片的DC&RF&OO測(cè)試所需的完整配置，在短時(shí)間內(nèi)可準(zhǔn)確地完成芯片的參數(shù)測(cè)試與提取。$nGP200擁有穩(wěn)定且可靠的測(cè)試平臺(tái)，保證測(cè)試中的扎針質(zhì)量...
GP半自動(dòng)探針臺(tái)，GP2000-SE 高低溫探針臺(tái)。機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測(cè)量，提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測(cè)試系統(tǒng)方案?？蓱?yīng)用于I-V/C-V/P-IV測(cè)試、1/f噪聲測(cè)試、射頻/毫米...
大功率探針臺(tái),GP300探針臺(tái)讓您的芯片測(cè)試更加簡(jiǎn)單，機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測(cè)量，提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測(cè)試系統(tǒng)方案。
頭條防止靜電傷害：晶圓ESD測(cè)試機(jī)操作中的安全措施2025-3-7
在半導(dǎo)體制造過(guò)程中，靜電放電（ESD）是一種潛在的風(fēng)險(xiǎn)，可能對(duì)晶圓、設(shè)備和人員安全造成嚴(yán)重影響。晶圓ESD測(cè)試機(jī)作為測(cè)試和驗(yàn)證半導(dǎo)體器件的工具，必須采取有效的安全措施，以...2025
4-10探針臺(tái)手動(dòng)與自動(dòng)有哪些區(qū)別？
探針臺(tái)作為半導(dǎo)體行業(yè)重要的檢測(cè)工具，其手動(dòng)與自動(dòng)模式在操作方式、應(yīng)用場(chǎng)景、效率與精度等方面存在顯著差異。以下是兩者的...2025
3-10全自動(dòng)射頻探針臺(tái)的日常維護(hù)保養(yǎng)
全自動(dòng)射頻探針臺(tái)作為微電子領(lǐng)域的高精度測(cè)試設(shè)備，其日常維護(hù)保養(yǎng)至關(guān)重要，以下是一些具體的維護(hù)保養(yǎng)建議：一、避免碰撞與...2025
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